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　　蔡司LSM 900激光掃描共聚焦顯微鏡（CLSM）是一臺(tái)用于材料分析的儀器，可在實(shí)驗(yàn)室或多用戶設(shè)施中表征三維微觀結(jié)構(gòu)和表面形貌。LSM 900可對(duì)納米材料、金屬、聚合物和半導(dǎo)體進(jìn)行三維成像和分析。將蔡司Axio Imager.Z2m正置式全自動(dòng)光學(xué)顯微鏡或蔡司Axio Observer 7倒置式顯微鏡裝上LSM 900共聚焦掃描頭，同時(shí)具有所有的光學(xué)顯微鏡觀察模式，以及高精度的共聚焦表面三維成像模式，您可輕松將所有功能集于一身。這些功能的使用無(wú)需切換顯微鏡，您將可以進(jìn)行原位觀察，節(jié)省大量的時(shí)間。自動(dòng)化也會(huì)

　　奧林巴斯激光共焦顯微鏡采用了較佳光學(xué)系統(tǒng)，可通過(guò)非破壞觀察法生成高畫質(zhì)的圖像并進(jìn)行JQ的3D測(cè)量。其準(zhǔn)備操作也非常簡(jiǎn)單且無(wú)需對(duì)樣本進(jìn)行預(yù)先處理。具有高精度和光學(xué)性能的LEXT?OLS5100激光掃描顯微鏡配備了讓系統(tǒng)更加易于使用的智能工具。其能夠快速完成亞微米級(jí)形貌和表面粗糙度的測(cè)量任務(wù)，既簡(jiǎn)化了工作流程又能讓您獲得可信賴的高質(zhì)量數(shù)據(jù)。LEXT? OLS5100 3D激光掃描顯微鏡用于材料分析的激光顯微鏡更智能的工作流程，更快速的實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)適用于故障分析和材料工程研究的OLS5100激光顯微鏡將測(cè)量精度和光

　　TM4000PlusIII/TM4000III的特點(diǎn)：★節(jié)省人力成本，降低操作技術(shù)難度▲多樣品自動(dòng)化觀察：觀察工作流程的自動(dòng)化功能（TM4000PlusIII）可以作為程序保存樣品臺(tái)移動(dòng)、倍率變更、拍照等觀察流程。程序化的觀察流程，一鍵單擊即可自動(dòng)執(zhí)行操作。為不同類型客戶（如日常使用量較多，需進(jìn)行多樣品觀察的客戶，對(duì)觀察條件不確定的客戶等）節(jié)省人力成本，降低操作技術(shù)難度?！鴮?shí)現(xiàn)快速自動(dòng)顆粒分析：大電流功能 + AZtecLiveLite 顆粒分析功能工業(yè)產(chǎn)品的清潔度分析和使用過(guò)濾膜收集顆粒并進(jìn)行自動(dòng)分析的

　　EVO系列將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗(yàn)結(jié)合在一起，同時(shí)能夠吸引經(jīng)驗(yàn)豐富的用戶以及新用戶。無(wú)論是在生命科學(xué)， 材料科學(xué)， 或例行的工業(yè)質(zhì)量力求和失效分析領(lǐng)域，憑借廣泛的可選配置， EVO 都可以根據(jù)您的要求量身定制。顯微鏡中心或工業(yè)質(zhì)量力求實(shí)驗(yàn)室的多功能解決方案不同的真空室大小和可滿足所有應(yīng)用要求的載物臺(tái)選項(xiàng)-甚至是大型工業(yè)零部件樣品使用LaB6燈絲，能夠得到更優(yōu)的圖像質(zhì)量對(duì)不導(dǎo)電和無(wú)導(dǎo)電涂層的樣品的成像和分析性能出色可以配置多種分析探測(cè)器用于滿足各種顯微分析應(yīng)用的需求蔡司電鏡|EVO系列

　　利用成熟的 Gemini 電子光學(xué)元件，將佳的分析性能與場(chǎng)發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合。多種探測(cè)器可選：用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。Sigma 半自動(dòng)的4步工作流程節(jié)省大量的時(shí)間：設(shè)置成像與分析步驟，提率。Sigma300 性價(jià)比高。Sigma 500 裝配有背散射幾何探測(cè)器，可快速方便地實(shí)現(xiàn)基礎(chǔ)分析。樣品均可獲得更精準(zhǔn)可重復(fù)的分析結(jié)果。蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡Sigma系列落地式掃描電子顯微鏡特點(diǎn)：l用于清晰成像的靈活探測(cè)*利用探測(cè)術(shù)為您的需求定制 Sigma，表征所有樣品。*利用 in-lens 雙探測(cè)器獲取形貌

　　隨著快速數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)處理技術(shù)的發(fā)展，電子顯微鏡進(jìn)入了一個(gè)不僅重視數(shù)據(jù)質(zhì)量，而且重視其采集過(guò)程的時(shí)代。SU8600系列秉承了Regulus8200系列的圖像、大束流分析及長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定運(yùn)行的冷場(chǎng)成像技術(shù)，同時(shí)還大大提升了高通量、自動(dòng)數(shù)據(jù)獲取能力。*設(shè)備照片包含選配項(xiàng)。日立場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡SU8600系列特點(diǎn)：★高分辨成像日立的高亮度電子源可力求了即使在低著陸電壓下，也可獲得高分辨的圖像?！锔咭r度的低加速電壓背散射圖像3D NAND截面觀察;在低加速電壓條件下，背散射電子信號(hào)能夠明顯的顯示出氧化硅層和氮化硅

　　SU7000不僅可以在低加速電壓下獲得高畫質(zhì)圖像，而且還可以同時(shí)接收多種信號(hào)。此外，它還具備大視野觀察、In-Situ觀察等FE-SEM的眾多優(yōu)異良能。SU7000是一臺(tái)實(shí)現(xiàn)了獲取大量信息的新型掃描電鏡，可以滿足客戶的多種觀察需求。接下來(lái)請(qǐng)欣賞SU7000帶來(lái)的多彩世界。*圖為包含選配項(xiàng)的SU7000示意圖日本日立高分辨肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SU7000核心理念：1.采用優(yōu)的成像技術(shù)SU7000可以迅速獲取從大視野全貌圖到表面微細(xì)結(jié)構(gòu)等多種檢測(cè)信號(hào)。全新設(shè)計(jì)的電子光學(xué)系統(tǒng)和檢測(cè)系統(tǒng)，使得裝置可以同時(shí)接收二次

　　電子顯微鏡(EM)品牌進(jìn)口|HITACHI日立掃描電子顯微鏡|SU5000熱場(chǎng)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡特點(diǎn)：▲高性能電子光學(xué)系統(tǒng)二次電子分辨率: 頂位二次電子探測(cè)器(2.0 nm at 1kV)＊高靈敏度: PD-BSD, 強(qiáng)的低加速電壓性能，低至100 V成像大束流(>200 nA): 便于微區(qū)分析▲性能優(yōu)良?jí)毫勺? 具有優(yōu)異的低真空(10 -300 Pa)成像性能，配備高靈敏度低真空探測(cè)器(UVD)＊開(kāi)倉(cāng)室快速簡(jiǎn)單換樣(大樣品尺寸: Φ 200 mm x 80 mmH)微區(qū)分析: EDS, WDS,

　　日立高新推出的掃描電鏡SU3800/SU3900兼具操作性和擴(kuò)展性，結(jié)合眾多的自動(dòng)化功能，可發(fā)揮其高性能。SU3900標(biāo)配多功能大樣品倉(cāng)，可應(yīng)對(duì)大型樣品的觀察。日立電鏡_鎢燈絲掃描電鏡_SU3800/SU3900掃描電子顯微鏡特點(diǎn)：①SU3900標(biāo)配多功能大樣品倉(cāng)，可應(yīng)對(duì)大型樣品的觀察■樣品臺(tái)可搭載大/重樣品通過(guò)更換樣品提示，可防止由于與樣品的接觸而損壞設(shè)備或樣品選配樣品交換倉(cāng)，可在主樣品倉(cāng)保持真空的狀態(tài)下快速更換樣品，大大提高了工作效率具備樣品臺(tái)移動(dòng)限制解除功能,提高了自由度*紅外CCD探測(cè)器，提高了樣

　　FlexSEM 1000 II，憑借全新設(shè)計(jì)的電子光學(xué)系統(tǒng)和高靈敏度檢測(cè)器，可在加速電壓20 kV下實(shí)現(xiàn)4.0 nm的分辨率。全新的用戶界面，具有亮度和對(duì)焦自動(dòng)調(diào)節(jié)功能，可以在短時(shí)間內(nèi)進(jìn)行各種觀察。此外，還搭載了全新的導(dǎo)航功能“SEM MAP”，這個(gè)功能可彌補(bǔ)電子顯微鏡上難以找準(zhǔn)視野的缺點(diǎn)，實(shí)現(xiàn)直觀的視野移動(dòng)。盡管是可放置在桌面上的小巧緊湊型*1電子顯微鏡，仍可實(shí)現(xiàn)4.0 nm的分辨率憑借特的高靈敏度二次電子、背散射電子檢測(cè)器、低真空檢測(cè)器（UVD*2），可在低加速/低真空下觀察時(shí)實(shí)現(xiàn)高的畫質(zhì)全新的用戶界

　　更靈活的成像工具 – 配備Gemini 1鏡筒的蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 360可以實(shí)現(xiàn)各種樣品的高分辨成像、分析和各種應(yīng)用需求的拓展。更強(qiáng)大的分析能力 - 配備Gemini 2鏡筒的蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 460可應(yīng)對(duì)更加復(fù)雜的分析工作。連續(xù)可調(diào)的大束流使您可以在成像和分析條件之間無(wú)縫切換。更高性能的表征體驗(yàn) - 蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 560配有Gemini 3鏡筒及其新型電子光學(xué)引擎，讓它在各種工作條件下均可發(fā)揮該系列高分辨率特性?！锼緢?chǎng)發(fā)射掃描電鏡Gemin

　　蔡司MultiSEM掃描電子顯微鏡簡(jiǎn)介：借助 MultiSEM 顯微鏡，您可以充分運(yùn)用 91 條并行電子束的采集速度?，F(xiàn)如今，您能夠以納米分辨率對(duì)厘米級(jí)樣品成像。這款掃描電子顯微鏡（SEM）專為 7 x 24 小時(shí)的連續(xù)、可靠運(yùn)行而設(shè)計(jì)。只需簡(jiǎn)單設(shè)置高性能數(shù)據(jù)采集流程，MultiSEM 便能夠立地自動(dòng)完成高襯度圖像采集。使用成熟的 ZEN 成像軟件控制 MultiSEM：您可以直觀靈活地管理這款高性能掃描電子顯微鏡的所有功能選項(xiàng)。蔡司MultiSEM掃描電子顯微鏡特點(diǎn)：n以較高速度和納米分辨率采集圖像=9