更靈活的成像工具 – 配備Gemini 1鏡筒的蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 360可以實(shí)現(xiàn)各種樣品的高分辨成像、分析和各種應(yīng)用需求的拓展。更強(qiáng)大的分析能力 - 配備Gemini 2鏡筒的蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 460可應(yīng)對(duì)更加復(fù)雜的分析工作。連續(xù)可調(diào)的大束流使您可以在成像和分析條件之間無(wú)縫切換。更高性能的表征體驗(yàn) - 蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 560配有Gemini 3鏡筒及其新型電子光學(xué)引擎，讓它在各種工作條件下均可發(fā)揮該系列高分辨率特性。

★司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 360

它是中心實(shí)驗(yàn)室的得力助手，在科研和工業(yè)領(lǐng)域中具有高通用性。

=靈活的樣品適用性

·場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 360是中心實(shí)驗(yàn)室的較想選擇，在科研和工業(yè)中具有非常高的通用性。

·產(chǎn)品搭載Gemini 1鏡筒，在低電壓下依然具有高分辨成像能力，讓您輕松獲取樣品表面高分辨信息。

·通過(guò)鏡筒內(nèi)二次電子和背散射電子同時(shí)成像，即使對(duì)于電子束樣品也可以獲取高分辨的表面形貌和成分襯度。

·在低真空下（NanoVP）拍攝不導(dǎo)電樣品時(shí)，依然可以通過(guò)鏡筒內(nèi)Inlens探頭獲得優(yōu)良度：無(wú)荷電高分辨。

=良好用戶(hù)體驗(yàn)

·場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 360可提供良好戶(hù)體驗(yàn)：該產(chǎn)品具有廣闊的視野范圍和大體積腔室，可以輕松檢測(cè)大尺寸樣品。

·利用蔡司ZEN Connect軟件可在多種顯微鏡（例如光鏡、電鏡、X射線(xiàn)顯微鏡）之間進(jìn)行無(wú)縫導(dǎo)航。

·使用蔡司自動(dòng)對(duì)焦和智能探測(cè)器等自動(dòng)功能輕松采集清晰、銳利的圖像。

·具有對(duì)稱(chēng)的EDS端口和共面的EDS / EBSD幾何設(shè)計(jì)，可執(zhí)行成像和分析工作流程。

·可有效延長(zhǎng)系統(tǒng)正常運(yùn)行時(shí)間，并讓您從容地進(jìn)行計(jì)劃內(nèi)維護(hù)。

=較佳的擴(kuò)展性

·可升級(jí)的系統(tǒng)可有效減少重復(fù)投資。因此，我們將場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 360融入蔡司ZEN core軟件生態(tài)系統(tǒng)中。

·ZEN軟件生態(tài)系統(tǒng)包括：ZEN Connect可關(guān)聯(lián)多儀器、多尺度數(shù)據(jù)；ZEN Intellesis是基于AI的自動(dòng)分析工具； ZEN數(shù)據(jù)存儲(chǔ)功能可以讓您在一個(gè)數(shù)據(jù)中心節(jié)點(diǎn)上管理不同儀器的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。

·可訪(fǎng)問(wèn)作為APEER社區(qū)成員的其他用戶(hù)創(chuàng)建的工作流和腳本，幫助您解決難題。

·明確的升級(jí)路徑幫助您的設(shè)備更好地升級(jí)新的功能。

蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 460

具有更強(qiáng)大的分析能力，可進(jìn)行更分析和自動(dòng)化的工作流程。

n利用高分辨率和大束流

=場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 460專(zhuān)為有挑戰(zhàn)性的分析任務(wù)而設(shè)計(jì)，可進(jìn)行更分析和自動(dòng)的工作流程。

=Gemini 2鏡筒可快速執(zhí)行高分辨成像和大束流分析：從小束流-低電壓無(wú)縫切換到大束流-高電壓。

=并行使用多個(gè)探測(cè)器，提供樣品的全方位數(shù)據(jù)。

=多接口腔室設(shè)計(jì)可兼容更多探測(cè)器，以進(jìn)行更分析。

=使用新的VP模式在大束流下采集EBSD譜圖可達(dá)4000點(diǎn)/秒的標(biāo)定率。

=對(duì)于化學(xué)成分和晶體取向的分析，具有兩個(gè)對(duì)稱(chēng)的EDS端口和共面的EDS/EBSD幾何學(xué)設(shè)計(jì)，可實(shí)現(xiàn)更快速度且無(wú)陰影的面分析結(jié)果。

n定制化的自動(dòng)化工作流程

=強(qiáng)大的分析功能與自動(dòng)化流程相結(jié)合，讓您的分析工作更進(jìn)一步。并且蔡司還可以通過(guò)Python腳本來(lái)定制您自己的自動(dòng)化實(shí)驗(yàn)。

=修改實(shí)驗(yàn)過(guò)程并根據(jù)您的要求定制結(jié)果輸出。

=STEM三維成像功能：將自動(dòng)傾斜和旋轉(zhuǎn)與蔡司特征點(diǎn)跟蹤相結(jié)合。將所有自動(dòng)對(duì)齊的圖像發(fā)送到專(zhuān)有的3D重構(gòu)軟件后，生成具有納米級(jí)分辨率的3D形貌。

=當(dāng)您需要測(cè)試材料的加工特性時(shí)，蔡司將為您提供自動(dòng)化的原位加熱和拉伸實(shí)驗(yàn)平臺(tái)：它可以讓您自動(dòng)觀察在加熱和拉伸條件下的材料，同時(shí)動(dòng)態(tài)繪制應(yīng)力-應(yīng)變曲線(xiàn)。

n為您帶來(lái)更多可能性

=基于Gemini 2鏡筒設(shè)計(jì)，即使在低電壓時(shí)，也可以通過(guò)調(diào)高束流密度來(lái)提高分析能力。

=能夠使系統(tǒng)與各種配件相兼容。多功能型腔室不僅可以配置分析附件，還可以配置原位臺(tái)、冷凍傳輸系統(tǒng)和納米探針。

=因此，您可以隨時(shí)對(duì)儀器進(jìn)行配置更改和升級(jí)。

=所有GeminiSEM均已融入蔡司ZEN core生態(tài)系統(tǒng)，您可以利用ZEN Connect、ZEN Intellesis和ZEN分析模塊，以獲取報(bào)告和GxP工作流程。

蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 560

該系列更的表征體驗(yàn)，讓您輕松對(duì)困難樣品進(jìn)行1 kV以下的高分辨、無(wú)畸變成像。

n表面成像的高水準(zhǔn)

=場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 560提升你的電鏡體驗(yàn)，即使在1kV以下也可以很輕松地對(duì)電子束的樣品進(jìn)行無(wú)畸變高分辨的成像。

=Gemini 3鏡筒搭載Nano-twin物鏡和新型電子光學(xué)引擎Smart Autopilot，可在1 kV以下對(duì)樣品進(jìn)行1 nm以下分辨率的無(wú)漏磁成像-無(wú)需樣品臺(tái)偏壓或單色器。

=通過(guò)新的可變氣壓模式和檢測(cè)系統(tǒng)對(duì)不導(dǎo)電及氣壓的樣品進(jìn)行成像：將真空樣本通過(guò)低真空樣品交換室進(jìn)入電鏡腔室，可以維持樣品本征的結(jié)構(gòu)后快速成像。

=利用帶雙EDS接口的新型大型腔室，輕松分析復(fù)雜樣品。通過(guò)優(yōu)化的探測(cè)器幾何設(shè)計(jì)尋求快速、無(wú)陰影的圖像。

n融合知識(shí)

=新的電子光學(xué)引擎Smart Autopilot可提升對(duì)高難度樣品的成像體驗(yàn)。

=新系統(tǒng)的大視野功能可讓您輕松進(jìn)行樣品導(dǎo)航。

=Smart Autopilot可讓您節(jié)省時(shí)間，同時(shí)避免進(jìn)行復(fù)雜的的光路對(duì)中：該引擎可自動(dòng)調(diào)整光路，讓圖像從一倍放大至五十萬(wàn)倍時(shí)始終保持光路對(duì)中聚焦良好的狀態(tài)。

=Smart Autopilot包含蔡司自動(dòng)對(duì)焦和自動(dòng)光路對(duì)中功能，可在幾秒內(nèi)為您提供清晰、銳利的圖像。

=Python腳本能夠在自動(dòng)化工作流程（例如3D STEM斷層成像）中集成軟件功能。

體驗(yàn)更高的襯度

=樣品拍攝中的更佳成像條件，意味著您結(jié)合了更佳的參數(shù)組合來(lái)獲得圖像：所以拍圖訣竅就是找到它。

Gemini鏡筒技術(shù)及其無(wú)漏磁成像技術(shù)和全新的Gemini 3鏡筒可使您找到這些更佳成像條件，并從樣品中發(fā)現(xiàn)新的信息。

=場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 560可以輕松拍攝磁疇襯度，它在樣品上的磁場(chǎng)小于2 mT。

=使用帶能量過(guò)濾器的Inlens背散射探測(cè)器進(jìn)行能量分辨背散射電子成像，同時(shí)通過(guò)環(huán)形背散射探測(cè)器進(jìn)行角分辨背散射電子成像。

=通過(guò)ZEN Connect對(duì)所有數(shù)據(jù)進(jìn)行整合，輕松生成報(bào)告。

蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡GeminiSEM應(yīng)用示例：

n納米科學(xué)與納米材料

=顯示納米電子和光子器件的微結(jié)構(gòu)、完整性和失效

=對(duì)電子束樣本（例如低維材料）進(jìn)行成像，同時(shí)避免大的電子束損傷、荷電效應(yīng)或圖像畸變

=以高分辨率研究納米磁性和納米力學(xué)，表征材料的表面形貌并分析其元素組成

=創(chuàng)建并評(píng)估納米流控實(shí)驗(yàn)器件的質(zhì)量

n能源材料

=微觀結(jié)構(gòu)和器件評(píng)估

=缺陷分析

=相分布

=孔和裂紋的標(biāo)定

n工程材料

=任何材料種類(lèi)都能進(jìn)行高分辨成像，具有出色的襯度和清晰度

=金相和斷裂分析

=不同條件下材料行為的原位表征

=生成實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行驗(yàn)證并提高仿真模型的準(zhǔn)確度

n仿生材料、聚合物和催化劑

=表面表征和評(píng)估

=結(jié)構(gòu)分析、區(qū)分和量化

=多尺度表征，用于某些生物材料具有的典型亞結(jié)構(gòu)表征

=失效分析與過(guò)程控制

n半導(dǎo)體器件設(shè)計(jì)與失效分析

=架構(gòu)分析與逆向工程

=電壓襯度

=亞表面分析

=電學(xué)性能測(cè)量探針

=定位TEM位置

n其它工業(yè)領(lǐng)域

=機(jī)械、光學(xué)或電子器件的失效分析

=斷裂分析與金相

=表面、微結(jié)構(gòu)和器件表征

=成分分布和相分布

=雜質(zhì)和夾雜物測(cè)定