VERTEX 80/80v 傅立葉變換紅外光譜儀

所屬系列：ZJYQ-GPYQIR-BRUKER

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產(chǎn)品描述

VERTEX 80和VERTEX 80v真空FTIR光譜儀采用主動準(zhǔn)直的 UltraScan? 干涉儀，能夠為您帶來更佳的光譜分辨率。高精度的線性氣動軸承掃描儀以及優(yōu)質(zhì)光學(xué)元件為儀器的靈敏度和穩(wěn)定性提供了保證。VERTEX 80v采用真空光學(xué)臺，可消除大氣中的水分吸收，從而實現(xiàn)更佳的靈敏度和穩(wěn)定性，助力進(jìn)行諸多高難度試驗，如高分辨率、超快速掃描、步進(jìn)掃描或紫外光譜范圍測量。
得益于VERTEX 80/80v 的光學(xué)設(shè)計，系統(tǒng)不僅具備較佳的靈活性，還擁有良好的性能。布魯克光學(xué)的DigiTect?技術(shù)，有助于避免外部信號干擾，保證了儀器的較佳信噪比，這使得用戶可以輕松重復(fù)地自行更換檢測器。兩個可選的外接檢測器端口可安裝輻射熱測量計和/或熱電子檢測器的液氦杜瓦。與外接的水冷高功率Hg-arc光源相結(jié)合，即便是使用室溫DTGS檢測器，也能達(dá)到近期重新發(fā)現(xiàn)的太赫茲光譜范圍。
譜區(qū)擴展
VERTEX 80/80v可通過配備各種光學(xué)選件，來覆蓋從遠(yuǎn)紅外或太赫茲開始，經(jīng)中紅外和近紅外、可見光到紫外光的光譜區(qū)域。其預(yù)準(zhǔn)直光學(xué)元件以及主動準(zhǔn)直的UltraScan?干涉儀，使切換和維護(hù)變得十分簡單。
BMS-c：布魯克為VERTEX 80v真空光譜儀提供高精度分束器切換選件BMS-c。
您可以在真空條件下，通過遠(yuǎn)程控制自動更換多達(dá)4種不同類型的分束器?，F(xiàn)在，您無需泄光譜儀真空打開光學(xué)臺來手動切換分束器，就能測量從紫外/可見光到遠(yuǎn)紅外/太赫茲的完整光譜范圍。
全新附件：布魯克為VERTEX 80/80v FTIR 系列光譜儀提供了新型寬帶遠(yuǎn)紅外/太赫茲分束器，拓展了分束器的選擇范圍。特別是在半導(dǎo)體和其它無機材料研究與開發(fā)應(yīng)用中，由于遠(yuǎn)紅外固態(tài)分束器在單次測量中即可覆蓋從900 cm-1 到5 cm-1左右的光譜范圍，并且能夠?qū)⒅屑t外與遠(yuǎn)紅外/太赫茲波譜范圍連接起來，因此它還能帶來更多價值。
光學(xué)分辨率
VERTEX 80 和 VERTEX 80v 標(biāo)準(zhǔn)配置提供優(yōu)于 0.2cm-1的標(biāo)點光譜分辨率，這足以進(jìn)行大多數(shù)環(huán)境壓力氣相研究和室溫樣品測量。對于低溫工作，例如在晶體半導(dǎo)體材料或低壓力下進(jìn)行氣相測量，提供優(yōu)于 0.06cm-1 的 PEAK 分辨率。這是使用商用臺式 FT-IR 光譜儀實現(xiàn)的高光譜分辨率?？梢姽庾V范圍內(nèi)的高分辨率光譜顯示分辨率（波數(shù) + 除以光譜分辨率 ? +）更好的 300，000：1。
多功能
光學(xué)設(shè)計使靈活性和拓展能力更佳的研究級真空FTIR光譜儀成為可能。借助真空光學(xué)臺，該系統(tǒng)在中紅外、近紅外和遠(yuǎn)紅外區(qū)域具有較佳的靈敏度，而不必?fù)?dān)心那些非常弱的光譜特征因空氣中的水蒸氣吸收而被掩蓋。VERTEX 80v真空光譜儀能為您帶來優(yōu)越的成果，例如在低至10-3單層的納米科學(xué)研究領(lǐng)域。不僅如此，它的靈活性幾乎不受限制。光學(xué)臺的右側(cè)、前側(cè)和左側(cè)布有5個光束輸出端口，右側(cè)和后側(cè)有兩個光束輸入端口。因此，它可以同時進(jìn)行連接：例如，后側(cè)輸入端口的同步輻射光源、右側(cè)輸出口的PMA50偏振調(diào)制附件、右前側(cè)端口的光纖耦合模塊、左前側(cè)的輻射熱測量計探測器以及左側(cè)輸出端口的HYPERION系列FTIR顯微鏡。

VERTEX 80系列是要求苛刻的研究與開發(fā)應(yīng)用的較理想儀器。
VERTEX 80和VERTEX 80v光譜儀是VERTEX系列的高性能研究級儀器。其光學(xué)設(shè)計使得強大的臺式吹掃和真空光譜儀成為可能。它們能夠提供從紫外/可見光（50000 cm-1）到遠(yuǎn)紅外/太赫茲（5 cm-1）的廣泛光譜范圍、高的光譜和時間分辨率以及優(yōu)越的靈活性。多功能VERTEX 80/80v系統(tǒng)能夠通過其技術(shù)，為所有研究應(yīng)用提供解決方案。
研究與開發(fā)
? 用于幅度/相位調(diào)制光譜的連續(xù)和步進(jìn)掃描技術(shù)
? 用于高時間分辨率實驗的快速、交叉和步進(jìn)掃描技術(shù)（步進(jìn)掃描/快速掃描/交叉掃描時間分辨光譜）
? 對周期性有序微觀材料（即超材料）進(jìn)行表征
? 用于氣體分析分辨率優(yōu)于0.06 cm-1的高分辨率光譜
? 用于真空紅外光束裝置的系統(tǒng)化
? 酶催化實驗的停流方法
? 外接超高真空測量腔室
? 用于電極表面和電解質(zhì)原位研究的FTIR 光譜電化學(xué)
制藥
? 測定分子的絕對構(gòu)（VCD）
? 通過熱分析對藥物產(chǎn)品的穩(wěn)定性和揮發(fā)物含量進(jìn)行表征 (TGA-FTIR)
? 遠(yuǎn)紅外譜區(qū)區(qū)分活性藥物成分多晶型
聚合物與化學(xué)
? 遠(yuǎn)紅外譜區(qū)識別聚合物復(fù)合材料中的無機填料
? 聚合物動態(tài)和流變學(xué)研究
? 測定揮發(fā)性化合物及表征熱分解過程 (TGA-FTIR)
? 反應(yīng)監(jiān)測和反應(yīng)控制（中紅外光纖探頭）
? 識別無機礦物質(zhì)和顏料
表面分析
? 薄膜和單分子層檢測與表征
? 結(jié)合偏振調(diào)制進(jìn)行表面分析 (PM-IRRAS)
材料科學(xué)
? 光學(xué)和高反射材料（光窗、反射鏡）的表征
? 通過光聲光譜學(xué)（PAS）研究深色物質(zhì)和深度剖析
? 材料的發(fā)射行為表征
半導(dǎo)體
? 硅晶圓中氧和碳含量的測定
? 淺能級雜質(zhì)的低溫透射和光致發(fā)光（PL）測量進(jìn)行質(zhì)量控制
外接附件、光源和檢測器

VERTEX 80/80v光譜儀配備了5個光束出口和兩個光束入口，可連接外部激光器和同步輻射光源。此外，借助外部測量附件、光源和檢測器，您可輕松升級光譜儀的光學(xué)系統(tǒng)。包括如下內(nèi)容：
? 用于VCD和PM-IRRAS的PMA 50偏振調(diào)制附件
? PL II 光致發(fā)光模塊
? RAM II FT-拉曼模塊和RamanScope III FT-拉曼顯微鏡
? TGA-FT-IR 聯(lián)用
? HYPERION 系列 FTIR 顯微鏡
? HYPERION 3000 FTIR 成像系統(tǒng)
? HTS-XT 高通量篩選eXTension
? IMAC 焦平面陣列宏觀成像附件
? 外部樣品室XSA（真空或吹掃）
? 外部真空密閉的超高真空腔室(UHV)
? 真空PL/PT/PR測量單元
? 低溫液氦或無低溫液體恒溫器
? 帶中紅外或近紅外光纖探頭的光纖耦合單元（用于固體和液體）
? 大型積分球
? 自動進(jìn)樣器
? 外部遠(yuǎn)紅外Hg燈光源
? 寬帶中紅外-遠(yuǎn)紅外檢測器
? 固態(tài)遠(yuǎn)紅外/太赫茲分束器
? 外部發(fā)射適配器
? 外部高性能中紅外光源
? 外部高性能可見光源
? 外部真空4位檢測器腔（用于真空光學(xué)系統(tǒng)）
? 適用于遠(yuǎn)紅外光譜范圍檢測的輻射熱測量計
? 自動分束器切換

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