所屬系列：ZJYQ-GPFXYQ-Hitachi
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電話咨詢
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X-MET8000 |
X-MET8000 |
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廢金屬回收 |
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材料可靠性鑒定(PMI)檢查 |
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制造與 PMI QA/QC |
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貴金屬 |
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監(jiān)管機(jī)構(gòu)合規(guī)篩查 （消費品、包裝、原材料…） |
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環(huán)境土壤篩查 |
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環(huán)境土壤篩查 |
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金屬鍍層厚度測量 |
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科技考古 |
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手持式XRF光譜儀X-MET8000系列規(guī)格：
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X-MET8000 Smart |
X-MET8000 Optimum |
X-MET8000 Expert |
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?X射線管：40kV |
?X射線管：40kV or 50kV |
?X射線管：50kV |
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?濾光片：單一 |
?濾光片：6位濾光轉(zhuǎn)換器 |
?濾光片：6位濾光轉(zhuǎn)換器 |
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?檢測器：大面積 SDD |
?檢測器：大面積 SDD |
?檢測器：大面積 SDD |
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?最高樣本溫度：400oC |
?最高樣本溫度：100oC 或通過 HERO? 耐熱窗戶400oC（可選) |
?最高樣本溫度：100oC 或通過 HERO? 耐熱窗戶400oC（可選) |
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?符合 IP54 等級 |
?符合 IP54 等級 |
?符合 IP54 等級 |
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?Thick Kapton®窗口：保護(hù)以預(yù)防探測器的窗戶損壞 |
?可選窗口防護(hù)罩：預(yù)防檢測器的窗口損壞進(jìn)行保護(hù) |
?可選窗口防護(hù)罩：預(yù)防檢測器的窗口損壞進(jìn)行保護(hù) |
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?校準(zhǔn)：基本參數(shù)法(FP) |
?校準(zhǔn)：基本參數(shù)法 （包括輕元素分析） |
?校準(zhǔn)方法：自動跳轉(zhuǎn)的經(jīng)驗系數(shù)法（可進(jìn)行追溯） |
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?內(nèi)置攝像頭 （可選） |
?內(nèi)置攝像頭（可選） |
?內(nèi)置攝像頭 |
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?小光班準(zhǔn)直器（可選） |
?小光班準(zhǔn)直器 （可選) |
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?針對所有元素（從鎂到鈾）進(jìn)行優(yōu)先分析的六位濾光片 |
?針對所有元素，從鎂到鈾，的優(yōu)先分析的六位濾光片 |
